+7 (812) 645-08-06
Эллипсометры
Выбор производителя
Спектроскопический эллипсометр
Спектроскопическая эллипсометрия-это мощный инструмент для тонкой пленки метрологии. Зоя реализует этот метод простым в использовании система с продвинутой модульной оптической и механической конструкции...
Спектроскопический эллипсометр
Спектроскопическая эллипсометрия-это мощный инструмент для тонкой пленки метрологии. Зоя реализует этот метод простым в использовании система с продвинутой модульной оптической и механической конструкции в основном для промышленного применения.
эллипсометрия против рефлектометрии (ТФК)
Рефлектометрии часто гораздо проще выполнить, чем эллипсометрии.
Рефлектометрия-это в целом дешевле, чем эллипсометрии.
ПДО ТФК не использование фокусирующей оптики позволяя рефлектометрии, чтобы быть нечувствительным к вибрации образца.
Измерения на движущиеся образцы возможны.
ПДО ТФК измерительной головки можно использовать в жестких условиях эксплуатации.
В промышленных условиях, в ТФК может обеспечить обратную связь в реальном времени и QA.
эллипсометрия против рефлектометрии (ТФК)
Рефлектометрии часто гораздо проще выполнить, чем эллипсометрии.
Рефлектометрия-это в целом дешевле, чем эллипсометрии.
ПДО ТФК не использование фокусирующей оптики позволяя рефлектометрии, чтобы быть нечувствительным к вибрации образца.
Измерения на движущиеся образцы возможны.
ПДО ТФК измерительной головки можно использовать в жестких условиях эксплуатации.
В промышленных условиях, в ТФК может обеспечить обратную связь в реальном времени и QA.
Эллипсометр - LEOI-44
Особенности
Идеально подходит для демо
Наблюдения Поляризованного Отражения
Измерения Показателя Преломления
Определение Поляризации Изменение
Введение
Это ручное управление экспериментального демонстратора...
Идеально подходит для демо
Наблюдения Поляризованного Отражения
Измерения Показателя Преломления
Определение Поляризации Изменение
Введение
Это ручное управление экспериментального демонстратора...
Эллипсометр - LEOI-44
Особенности
Идеально подходит для демо
Наблюдения Поляризованного Отражения
Измерения Показателя Преломления
Определение Поляризации Изменение
Введение
Это ручное управление экспериментального демонстратора...
Идеально подходит для демо
Наблюдения Поляризованного Отражения
Измерения Показателя Преломления
Определение Поляризации Изменение
Введение
Это ручное управление экспериментального демонстратора...
Спектроскопический эллипсометр - М-2000
М-2000 линия спектроскопические эллипсометры разработана для удовлетворения разнообразных потребностей тонкая пленка характеристика. Передовая оптическая конструкция, широкий спектральный диапазон, а для быстрой обработки данных...
Спектроскопический эллипсометр - М-2000
М-2000 линия спектроскопические эллипсометры разработана для удовлетворения разнообразных потребностей тонкая пленка характеристика. Передовая оптическая конструкция, широкий спектральный диапазон, а для быстрой обработки данных...
Спектроскопический эллипсометр - Альфа-СЭ®
Для рутинных измерений толщины тонких пленок и рефракционной...
Спектроскопический эллипсометр - Альфа-СЭ®
Для рутинных измерений толщины тонких пленок и рефракционной...
Спектроскопический эллипсометр - ваза®
Ваза-это наш самый точный и универсальный эллипсометр для исследования на всех типах материалов: полупроводников, диэлектриков, полимеров, металлов, Multi-слоев, и многое другое.
Это...
Это...
Спектроскопический эллипсометр - ваза®
Ваза-это наш самый точный и универсальный эллипсометр для исследования на всех типах материалов: полупроводников, диэлектриков, полимеров, металлов, Multi-слоев, и многое другое.
Это...
Это...
Спектроскопический эллипсометр / автоматизирован - ВУФ-ваза®
ВУФ-ваза переменным углом спектроскопического эллипсометра является стандартом в оптической характеризации материалов, используемых в литографии приложений. Его измерение...
Спектроскопический эллипсометр / автоматизирован - ВУФ-ваза®
ВУФ-ваза переменным углом спектроскопического эллипсометра является стандартом в оптической характеризации материалов, используемых в литографии приложений. Его измерение...
Спектроскопический эллипсометр - ИК-ваза®
ИК-ваза® является первым и единственным спектроскопический эллипсометр для покрытия спектральном диапазоне от 2 до 30 мкм (333 к...
Спектроскопический эллипсометр - ИК-ваза®
ИК-ваза® является первым и единственным спектроскопический эллипсометр для покрытия спектральном диапазоне от 2 до 30 мкм (333 к...
Спектроскопический эллипсометр - 190
Спектроскопический эллипсометр SENresearch меры толщины тонкой пленки, показатель преломления, коэффициент экстинкции, и связанных с ними свойств сыпучих материалов, одиночных слоев и многослойных стеков. Изотропных и анизотропных материалов, шероховатости поверхности и границ раздела, а также градиенты могут быть проанализированы. Кроме Того, SpectraRay/3,...
Спектроскопический эллипсометр - 190
Спектроскопический эллипсометр SENresearch меры толщины тонкой пленки, показатель преломления, коэффициент экстинкции, и связанных с ними свойств сыпучих материалов, отдельных слоев, и мульти
Спектроскопический эллипсометр - 370
Спектроскопический эллипсометр SENpro особенности простота в эксплуатации, скорость измерения и анализа сводных данных эллипсометрических измерений при разных углах падения. Он измеряет в спектральном диапазоне от 370 нм до 1050 нм....
Спектроскопический эллипсометр - 370
Спектроскопический эллипсометр SENpro особенности простота в эксплуатации, скорость измерения и анализа сводных данных эллипсометрических измерений при разных углах падения. Он измеряет в спектральном диапазоне от 370 нм до 1050 нм....
Спектроскопический эллипсометр - 1.7
Спектроскопический эллипсометр SENDIRA меры толщины тонкой пленки, показатель преломления, коэффициент экстинкции, и связанных с ними свойств сыпучих материалов, одиночных слоев и многослойных стеков. Особенно ниже слоев покрытия...
Спектроскопический эллипсометр - 1.7
Спектроскопический эллипсометр SENDIRA меры толщины тонкой пленки, показатель преломления, коэффициент экстинкции, и связанных с ними свойств сыпучих материалов, одиночных слоев и многослойных стеков. Особенно ниже слоев покрытия...
Спектроскопический эллипсометр / автоматизирован - SENDURO®
В SENDURO® измеряет показатель преломления и толщину пленок и одного слоя штабеля на прозрачных и отражающих поверхностях. Высокая производительность оцените, к минимуму затрат на монтаж и низкая стоимость обслуживания...
Спектроскопический эллипсометр / автоматизирован - SENDURO®
В SENDURO® измеряет показатель преломления и толщину пленок и одного слоя штабеля на прозрачных и отражающих поверхностях. Высокая производительность оцените, к минимуму затрат на монтаж и низкая стоимость обслуживания...
Эллипсометр лазерный - ГП 400adv
Лазерный эллипсометр ГП 400adv могут быть использованы для характеристики одного пленок и подложек из выбираемых, применение определенных углах падения. Авто-коллиматорный телескоп обеспечивает точность измерений для большинства видов поглощающие или прозрачные подложки с плоской, отражающей...
Эллипсометр лазерный - ГП 400adv
Лазерный эллипсометр ГП 400adv могут быть использованы для характеристики одного пленок и подложек из выбираемых, применение определенных углах падения. Авто-коллиматорный телескоп обеспечивает точность измерений для большинства видов поглощающие или прозрачные подложки с плоской, отражающей...