+7 (812) 645-08-06
Эллипсометры
Выбор производителя
Эллипсометр лазерный - 632.8 нм
В PHE101 является длина волны эллипсометра. Прибор имеет высокую точность и повторяемость благодаря своим новым функциям. Устройство работает через...
Эллипсометр лазерный - 632.8 нм
В PHE101 является длина волны эллипсометра. Прибор имеет высокую точность и повторяемость благодаря своим новым функциям. Устройство работает через...
Эллипсометр - 543 нм, 594 нм, 612 нм, 635 нм, нм 1164
В PHE101M является мульти-wavelegnth эллипсометра от Ангстрем продвинутые, что идеально подходит для измерения показателя преломления и толщины однослойных и многослойных...
Эллипсометр - 543 нм, 594 нм, 612 нм, 635 нм, нм 1164
В PHE101M является мульти-wavelegnth эллипсометра от Ангстрем продвинутые, что идеально подходит для измерения показателя преломления и толщины однослойных и многослойных...
Спектроскопический эллипсометр - 250 - 1700 нм
В пе-102 серия переменным углом спектроскопического эллипсометра, работающего в спектральном диапазоне 250-1,100 нм, 250-1,250-2 или 700 нм,100 нм. В пе-102 эллипсометр, широкая полоса источника белого света используется для освещения...
Спектроскопический эллипсометр - 250 - 1700 нм
В пе-102 серия переменным углом спектроскопического эллипсометра, работающего в спектральном диапазоне 250-1,100 нм, 250-1,250-2 или 700 нм,100 нм. В пе-102 эллипсометр, широкая полоса источника белого света используется для освещения образца пятна. Стеке слоев придает изменения состояния поляризации света и отражается обратно через анализатор и попадает в детектор
Эллипсометр для фотоэлектрических приложений / лазер 632.8 нм | PhE101S
В PhE101S очень проста в использовании и может быть установлен с новой лазерной центровки инструмента, что значительно повышает удобство использования и скорость...
Эллипсометр для фотоэлектрических приложений / лазер 632.8 нм | PhE101S
В PhE101S очень проста в использовании и может быть установлен с новой лазерной центровки инструмента, что значительно повышает удобство использования и скорость работы по сравнению с обычными эллипсометры. Он имеет 3 режима измерения, основанные на гармоническом анализе и один режим измерения на основе минимального поиска. Этот минимальный режим поиска дает правильные результаты для очень тонких слоев, которые обычно не возможные с вращающимся анализатором эллипсометры. В Ангстрем-авансы, полученные от Шмидта-Roemhild технологии наградой для минимальной технологии поиска.
Спектроскопический эллипсометр - 250 - 2100 нм | пе 103
В пе спектральный эллипсометр программного обеспечения имеет модель и фильмотеки с заданными измерения параметров, которые позволяют оператору выбрать заявку и быстро выполнить измерения. Библиотека включает в себя несколько сотен...
Спектроскопический эллипсометр - 250 - 2100 нм | пе 103
В пе спектральный эллипсометр программного обеспечения имеет модель и фильмотеки с заданными измерения параметров, которые позволяют оператору выбрать заявку и быстро выполнить измерения. Библиотека включает в себя несколько сотен различных моделей. Дружественный пе Спектроскопическое программное обеспечение позволяет пользователю измерять и анализировать несколько слоев материала и сложных тонкопленочных структур со смешанными слоями, слои интерфейс и многое другое. Государство-оф-арт программного обеспечения имеется несколько сотен моделей материалов. В пе-102 эллипсометр включает в себя все аппаратное и программное обеспечение, необходимое для получения и анализа всей выборки данных. Кроме того, пе-103 эллипсометр программного обеспечения является наиболее полным из существующих программ для получения и анализа данных. Она сочетает в себе государство-оф-арт-математических алгоритмов подбора с большим выбором вариантов моделирования для быстрого и точного анализа данных. Современной спектроскопической эллипсометрии программного обеспечения .
Спектроскопический эллипсометр - УФ, ВИС, Н-ИК, 45 – 90° | nanofilm_ep4
В nanofilm_ep4 использует различные уникальные особенности, которые позволяют визуализацию поверхности в режиме реального времени. Вы увидите структуру вашего образца на микроскопическом масштабе и измерить параметры, такие как толщина,...
Спектроскопический эллипсометр - УФ, ВИС, Н-ИК, 45 – 90° | nanofilm_ep4
В nanofilm_ep4 использует различные уникальные особенности, которые позволяют визуализацию поверхности в режиме реального времени. Вы увидите структуру вашего образца на микроскопическом масштабе и измерить параметры, такие как толщина, показатель преломления и поглощения. Карты отдельных районов могут быть получены. Инструмент комбинации с другими технологиями, например АСМ, МКК-д, рефлектометрия, спектроскопия Комбинационного рассеяния и др. можно получать еще больше информации от ваших образцов. Новое поколение микроскопических тонкие пленки, поверхности и материалы метрология инструмент использует комбинацию автоматического обнуления эллипсометрии и микроскопии включить характеристику поверхности с пространственным разрешением около 1 мкм. Это позволяет решению пробных площадях в 1000 раз меньше, чем большинство без визуализации эллипсометры, даже если они используют микро-пятна спектроскопический вариант.
Эллипсометр - Тгц-ТДС
В Тгц-ТМН производства ACCURION является эллипсометр, который поставляется с терагерцового спектрометра....
Эллипсометр - Тгц-ТДС
В Тгц-ТМН производства ACCURION является эллипсометр, который поставляется с терагерцового спектрометра. Этот прибор используется в качестве зондирующего свойства определенного материала посредством короткого импульса от терагерцового излучения. Он поставляется с обнаружение и генерация схемы, что является очень чувствительным, когда дело доходит до амплитуду и фазу терагерцового излучения.
Ячейка для эллипсометрических
СРП Серия, выпускаемая Accurion, является ячейкой используется для эллипсометрии, который имеет микрожидкостных сотового...
Ячейка для эллипсометрических
СРП Серия, выпускаемая Accurion, является ячейкой используется для эллипсометрии, который имеет микрожидкостных клетки и гибкая конструкция. Этот прибор оснащен ручным микрожидкостных жидкости агрегата, что позволяет для легкого использования.
Кроме того, СРП сотового применяется для приложений или операций, как белка-лекарственное взаимодействие, связывание липидов и мембран, пептид-белок, реакция и т. д.
Кроме того, СРП сотового применяется для приложений или операций, как белка-лекарственное взаимодействие, связывание липидов и мембран, пептид-белок, реакция и т. д.
Эллипсометр АСМ
Новое поколение микроскопических тонкие пленки, поверхности и материалы метрология инструмент использует комбинацию автоматического обнуления эллипсометрии и микроскопии включить характеристику поверхности с латеральным разрешением как...
Эллипсометр АСМ
Новое поколение микроскопических тонкие пленки, поверхности и материалы метрология инструмент использует комбинацию автоматического обнуления эллипсометрии и микроскопии включить характеристику поверхности с пространственным разрешением около 1 мкм. Это позволяет решению пробных площадях в 1000 раз меньше, чем большинство без визуализации эллипсометры, даже если они используют микро-пятна спектроскопический вариант. В nanofilm_ep4 использует различные уникальные особенности, которые позволяют визуализацию поверхности в режиме реального времени. Вы увидите структуру вашего образца на микроскопическом масштабе и измерить параметры, такие как толщина, показатель преломления и поглощения. Карты отдельных районов могут быть получены. Инструмент комбинации с другими технологиями, например АСМ, МКК-д, рефлектометрия, спектроскопия Комбинационного рассеяния и др. можно получать еще больше информации от образцов.
Эллипсометр - nanofilm_ep4
В Nanofilm_EP4, изготовленному Accurion® является эллипсометрия томография в сочетании с пьезокварцевые микровесы,...
Эллипсометр - nanofilm_ep4
В Nanofilm_EP4, изготовленному Accurion® является эллипсометрия томография в сочетании с пьезокварцевые микровесы,...
Спектроскопический эллипсометр / автоматизированные - 190 - 2 100 нм | UVISEL 2
UVISEL 2 является полностью автоматизированной и интегрированной спектральный эллипсометр, позволяющей точно тонкая пленка, толщина и оптические константы характеристика от диапазона длин волн 190 - 2100 нм.
Образец выравнивания, автофокус, Размер места отбора,...
Образец выравнивания, автофокус, Размер места отбора,...
Спектроскопический эллипсометр / автоматизированные - 190 - 2 100 нм | UVISEL 2
UVISEL 2 является полностью автоматизированной и интегрированной спектральный эллипсометр, позволяющей точно тонкая пленка, толщина и оптические константы характеристика от диапазона длин волн 190 - 2100 нм.
Образец выравнивания, автофокус, Размер места отбора, переменным углом наклона и картирования функций все выгоды от управления компьютера. В UVISEL 2 имеет 8 дискретных компьютер, ахроматические пятна размерами, что дает высокое качество измерений на небольших площадях.
В UVISEL 2 включает инновационный, цвет воображения зрительной системы, что позволяет пользователю визуализировать пятно луча на всех типах материалов.
Фазовой модуляции технологии в сочетании с передовой оптический дизайн обеспечивает непревзойденную точность и высокое разрешение эллипсометрических измерений для характеризации ультра тонкие а также толстые пленки.
Системы контроля, измерения данных, моделирование, моделирования, отчетности и автоматизации интегрированы мощные DeltaPsi2 программной платформы.
Образец выравнивания, автофокус, Размер места отбора, переменным углом наклона и картирования функций все выгоды от управления компьютера. В UVISEL 2 имеет 8 дискретных компьютер, ахроматические пятна размерами, что дает высокое качество измерений на небольших площадях.
В UVISEL 2 включает инновационный, цвет воображения зрительной системы, что позволяет пользователю визуализировать пятно луча на всех типах материалов.
Фазовой модуляции технологии в сочетании с передовой оптический дизайн обеспечивает непревзойденную точность и высокое разрешение эллипсометрических измерений для характеризации ультра тонкие а также толстые пленки.
Системы контроля, измерения данных, моделирование, моделирования, отчетности и автоматизации интегрированы мощные DeltaPsi2 программной платформы.
Спектроскопический эллипсометр- 190 - 2 100 нм | UVISEL
Построенный на 25-летний опыт работы, в UVISEL фазы модулированного эллипсометр обеспечивает высокую точность и высокое разрешение измерений с лучшим сигнал / шум идеально подходит для исследования нано-и микро-масштабных конструкций. Он является наиболее чувствительным инструментом для точного определения характеристик...
Спектроскопический эллипсометр- 190 - 2 100 нм | UVISEL
Построенный на 25-летний опыт работы, в UVISEL фазы модулированного эллипсометр обеспечивает высокую точность и высокое разрешение измерений с лучшим сигнал / шум идеально подходит для исследования нано-и микро-масштабных конструкций. Он является наиболее чувствительным инструментом для точного определения характеристик толщины пленки, оптических констант и свойств материала.
В UVISEL обеспечивает длинным-термин, стабильные измерения без необходимости регулярной калибровки.
Полный диапазон длин волн, охватываемый UVISEL составляет 190 - 2100 нм. Использование монохроматоров позволяет выбрать спектральный диапазон и разрешение, которое наилучшим образом соответствует Вашим требованиям к измерениям.
В UVISEL эллипсометр предлагает гибкую конструкцию, что позволяет оптимально подойдет именно вашему приложению необходимо.
- Ручной или автоматический гониометр, предметный столик и microspot оптики
- Большой выбор аксессуаров
- Ех-situ, на месте и доступных конфигураций доступен
В DeltaPsi2 программного обеспечения предлагает полную функциональность для измерений, моделирования и отчетности в дополнение к автоматической операции, которые облегчают рутинный анализ тонкой пленки.
В UVISEL обеспечивает длинным-термин, стабильные измерения без необходимости регулярной калибровки.
Полный диапазон длин волн, охватываемый UVISEL составляет 190 - 2100 нм. Использование монохроматоров позволяет выбрать спектральный диапазон и разрешение, которое наилучшим образом соответствует Вашим требованиям к измерениям.
В UVISEL эллипсометр предлагает гибкую конструкцию, что позволяет оптимально подойдет именно вашему приложению необходимо.
- Ручной или автоматический гониометр, предметный столик и microspot оптики
- Большой выбор аксессуаров
- Ех-situ, на месте и доступных конфигураций доступен
В DeltaPsi2 программного обеспечения предлагает полную функциональность для измерений, моделирования и отчетности в дополнение к автоматической операции, которые облегчают рутинный анализ тонкой пленки.
Спектроскопический эллипсометр- 147 - 2 100 нм | UVISEL 2 ВУФ
В UVISEL 2 ВУФ-это нэ поколения фазовой модуляции эллипсометр для измерения ВУФ. Это основной спектральный эллипсометр доступен, призван донести быстрый тонкая пленка измерений на крупнейших...
Спектроскопический эллипсометр- 147 - 2 100 нм | UVISEL 2 ВУФ
В UVISEL 2 ВУФ-это нэ поколения фазовой модуляции эллипсометр для измерения ВУФ. Это основной спектральный эллипсометр доступен, призван донести быстрый тонкая пленка измерений над большой диапазон длин волн, от 147 до 2100 нм. В UVISEL 2 ВУФ-половина и половина эллипсометр, приспособленный для работы в 2 режимах, под азотом или эфирного вакуума. Его механический контур улучшена за низкого азота утилизации вниз до 6л/мин, и считает быстрая загрузка образца.
Вариант восемь пятно размеров идеально подходит для минимальной области измерения и оперативно доступные камеры в передней делает нагружения образцов чрезвычайно подходит. Она включает в себя двойной высокой мощности источников стойкость, высокая пропускная способность оптики, в Сар2 фотография гибкого модулятора и два современных монохроматоров. В UVISEL 2 ВУФ ВУФ дает высокую чувствительность на длинах волн.
Вариант восемь пятно размеров идеально подходит для минимальной области измерения и оперативно доступные камеры в передней делает нагружения образцов чрезвычайно подходит. Она включает в себя двойной высокой мощности источников стойкость, высокая пропускная способность оптики, в Сар2 фотография гибкого модулятора и два современных монохроматоров. В UVISEL 2 ВУФ ВУФ дает высокую чувствительность на длинах волн.
Спектроскопический эллипсометр- 440 - 1 000 нм | Автоматический ГП
Авто SE представляет собой спектроскопический эллипсометр, изготовленный компанией ХОРИБА научных. Он позволяет производить автоматический анализ тонкопленочных образцов с простой...
Спектроскопический эллипсометр- 440 - 1 000 нм | Автоматический ГП
Авто SE представляет собой спектроскопический эллипсометр, изготовленный компанией ХОРИБА научных. Он позволяет производить автоматический анализ тонкопленочных образцов с простым кнопочным управлением. В несколько секунд, полный анализ отчета, содержащего информацию о толщина, оптические константы, шероховатости поверхности и неоднородностей пленки.
Авто SE имеет автоматический XYZ на этапе визуализации в режиме реального времени измерительного узла и автоматизированной Размер места отбора.
Авто ГП предназначен для рутинных тонкопленочных средств измерений и приборов контроля качества.
Авто SE имеет автоматический XYZ на этапе визуализации в режиме реального времени измерительного узла и автоматизированной Размер места отбора.
Авто ГП предназначен для рутинных тонкопленочных средств измерений и приборов контроля качества.
Спектроскопический эллипсометр- 450 - 1 000 нм | Смарт ГП
Прибор Смарт SE является спектральный эллипсометр. Очень быстрое и точное измерение тонкой пленки может быть сделано с помощью него. Он обладает способностью характеризуют тонкую пленку, толщиной от 20мкм минут, оптических констант (N и K) и даже свойства пленочных...
Спектроскопический эллипсометр- 450 - 1 000 нм | Смарт ГП
Прибор Смарт SE является спектральный эллипсометр. Очень быстрое и точное измерение тонкой пленки может быть сделано с помощью него. Он обладает способностью характеризуют тонкую пленку, толщиной от 20мкм минут, оптических констант (N и K) и даже свойства пленочных...